掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。

 

掃描電鏡具有景深大、分辨率高, 成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內(nèi)進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富, 幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優(yōu)點。

 

掃描電鏡的主要結構：

 

電子光學系統(tǒng)：產(chǎn)生高能電子束的鏡筒，包括:電子槍、電磁透鏡和掃描線圈;

信號探測處理及成像系統(tǒng)：接收并處理各種電子信號，包括掃描信號發(fā)生器、探測器、掃描放大器、電子信息處理器和監(jiān)控器;

圖像記錄系統(tǒng)：記錄電子圖像的信息，包括攝像頭、圖像分析器和記錄設備;

真空系統(tǒng)：作為電子束與樣品作用載體，包括樣品室、真空閥門、機械泵、油擴散泵、離子泵和真空檢測裝置;

電源供給系統(tǒng)：調控掃描電子顯微鏡外部環(huán)境，包括不間斷電源、變壓器、穩(wěn)壓器、安全控制線路和獨立地線。